換氣老化實(shí)驗(yàn)箱主要技術(shù)參數(shù)：
型號(hào):SVT-1
測(cè)試槽尺寸：92＊285＊40（W＊D＊H）mm   3/4SET
加熱時(shí)間：RT～98℃About50min
溫度穩(wěn)定度：±0.3℃
內(nèi)箱材質(zhì)：304﹟不銹鋼
外箱材質(zhì)：烤漆涂裝或304﹟不銹鋼
符合標(biāo)準(zhǔn)：GB、ISO、ASTM、UL、CEN…

換氣老化實(shí)驗(yàn)箱結(jié)構(gòu)特點(diǎn)
換氣老化實(shí)驗(yàn)箱整體由不銹鋼SUS #304 HL制成，采取微電腦數(shù)位LED控制，并具時(shí)間規(guī)劃功能，大可設(shè)定9,990Mins 多重超溫保護(hù)／缺水切電熱等安全裝置，操作簡單。采用PID+SSR溫度控制器，同時(shí)具有時(shí)間計(jì)時(shí)功能，大可設(shè)定9990分式無限。

換氣老化實(shí)驗(yàn)箱技術(shù)規(guī)格參數(shù)
計(jì)時(shí)功能：1～9999分鐘，時(shí)間到達(dá)后自動(dòng)切斷電源，并具備報(bào)警功能，
內(nèi)外箱體材質(zhì)：SUS304#不銹鋼板
保溫層：PV發(fā)泡膠
升溫時(shí)間:大約40分鐘 ；控制功能:PID+SSR,數(shù)字式顯示

換氣老化實(shí)驗(yàn)箱用途：該試驗(yàn)箱適用于電子連接器、半導(dǎo)體IC、晶體管、二極管、液晶LCD、芯片電阻電容、零組件產(chǎn)業(yè)電子零組件金屬接腳沾錫性試驗(yàn)前的老化加速壽命時(shí)間試驗(yàn);半導(dǎo)體、被動(dòng)組件、零件接腳氧化試驗(yàn)。

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